- Oferta
- Zgłoszone patenty
- Udział w projektach
- Osiągnięcia
- Kontakt
Laboratorium Badań Strukturalnych i Charakteryzacji Materiałów
Laboratorium prowadzi badania podstawowe i aplikacyjne w dziedzinie fizyki materiałów. Aktualnie prowadzone badania poświęcone są opracowywaniu i dalszemu doskonaleniu nowych metod analizy materiałów i ich modyfikacji przy pomocy wiązek jonów. Celem tych ostatnich jest uzyskanie poprawy własności strukturalnych i funkcjonalnych nowych materiałów. Badania prowadzone w Zakładzie cieszą się uznaniem międzynarodowym. Pracownicy uczestniczą w licznych programach badawczych, zarówno Unii Europejskiej jak i innych międzynarodowych oraz w projektach finansowanych przez NCN i NCBiR.
Oferta
Laboratorium specjalizuje się w następujących badaniach:
- analizie powierzchni materiałów przy pomocy Skaningowej Mikroskopii Elektronowej (SEM) i technik stowarzyszonych takich jak: EDS, EBSD, CL, FIB
- badaniach strukturalnych przy pomocy zaawansowanych metod dyfraktometrii rentgenowskiej (XRD), które pozwalają na:
- - analizę fazową metodami dyfraktometrii proszkowej, analizę strukturalną metodą Rietvelda
- - topografię rentgenowską
- - analizę warstw krystalicznych i heterostruktur metodami rentgenowskiej dyfraktometrii wysokorozdzielczej (HRXRD)
- rozwijaniu metod numerycznych analizy wyników otrzymanych metodami dyfraktometrii rentgenowskiej
- opracowywaniu metod modyfikacji materiałów przy pomocy technik jonowych
- analizie defektów radiacyjnych w materiałach stosowanych w inżynierii jądrowej
- badaniu własności funkcjonalnych napromieniowanych polimerów
- badaniu własności tribologicznych (procesy zużycia i tarcia) różnych materiałów
Laboratorium oferuje również usługi w dziedzinie: badania mikrostruktury materiałów oraz implantacji jonów w różnych materiałach.
Zgłoszone patenty
- Opracowanie metody modyfikacji powierzchni elastomerów do zastosowań specjalnych pozwalającej na uzyskanie kilkukrotnej redukcji współczynnika tarcia (J.Jagielski)
- Sposób domieszkowania pierwiastkami ziem rzadkich ZnO (A.Turos)
Udział w projektach
Program PBSII ZNOLUM
Świecące struktury fotoniczne na bazie ZnO implantowanego pierwiastkami ziem rzadkich.
Kierownik projektu: Prof. dr A. Turos
Program PBSIII GRAFEL
Zaawansowane uszczelnienia połączeń ruchomych na bazie kompozytów elastomerowo-grafenowych
Kierownik projektu: Prof. dr J. Jagielski
Program Graf-Tech OPTIGRAF
Wytworzenie grafenowych warstw ochronnych i grzewczych na szklanych elementach optycznych
Osiągnięcia
- Opracowanie metody charakteryzacji heterostruktur związków AIIIN zawierających ultracienkie warstwy przy pomocy wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej (HRXRD).
- Zastosowanie metody HRXRD do wyznacznia profilu odkształceń sieci w implantowanych kryształach ZnO w zależności od rodzaju i dawki jonów.
- Zastosowanie metody HRXRD do charakteryzacji grafenu
- Opracowanie metod symulacji rentgenowskich krzywych dyfrakcyjnych w oparciu o dynamiczną teorię dyfrakcji dla przypadku niskokątowego.
- Opracowanie metody pomiaru długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni za pomocą reflektometrii rentgenowskiej XRR w układzie nie-zwierciadlanym.
- Zaproponowanie modelu powstawania asymetrii kontrastu dyslokacji krawędziowych oraz określenie wpływu współczynnika absorpcji na obraz dyfrakcyjny w niskosymetrycznych, jednoskośnych kryształach.
- Ujawnienie dyslokacji krawędziowych w monokryształach GdCa4O(BO3)3 otrzymanych metodą Czochralskiego za pomocą dyfrakcyjnej topografii rentgenowskiej.
- Ujawnienie bloków krystalicznych oraz dyslokacji związanych z granicami niskokątowymi subziaren w monokryształach YVO4 metodami konwencjonalnej i synchrotronowej topografii dyfrakcyjnej.
- Ujawnienie struktury komórkowej w monokryształach pseudoperowskitów SrLaGaO4 o orientacji [001] oraz zaproponowanie modelu defektów (związanych ze wzrostem dendrytycznym) powodujących deformację o charakterze ściągającym sieć krystaliczną
- Ujawnienie i identyfikacja defektów strukturalnych oraz struktury politypowej w monokryształach i warstwach implantowanych węglika krzemu przy zastosowaniu retikulografii w przypadku synchrotronowej przekrojowej topografii odbiciowej
- Opracowanie oryginalnej metody symulacji i interpretacja teoretyczna nowego typu prążków „strain modulation fringes” pojawiających się w odbiciowej synchrotronowej topografii przekrojowej dla warstw implantowanych.
- Opracowanie modelu wielostopniowej akumulacji defektów radiacyjnych
- Opracowanie metody modyfikacji powierzchni elastomerów do zastosowań specjalnych pozwalającej na uzyskanie kilkukrotnej redukcji współczynnika tarcia Opis właściwości tribologicznych pary trącej w tarciu ślizgowym metodą pomiarów wibroakustycznych
- Opracowanie technik ujawniania liczby warstw grafenu na różnych podłożach w oparciu o kontrast uzyskiwany w skaningowym mikroskopie elektronowym
- Opracowanie technik ujawniania poszczególnych warstw w heterostrukturach A3B5 bez konieczności stosowania trawienia chemicznego w oparciu o kontrast uzyskiwany w skaningowym mikroskopie elektronowym
- Opracowanie modelu akumulacji transformacji defektów w implantowanych kryształach złożonych.
Kontakt
| dr Paweł Michałowski |
| Kierownik Laboratorium |
| (+48 22) 639-58-20 |
| pawel.michalowski@itme.edu.pl |
